Синтез и синхротронная характеризация Cr-замещённых стронциевых гексаферритов

Инженерия гексаферритов требует точного контроля над составом и кристаллической структурой. В этой работе мы представляем полный анализ синтеза и характеризацией $\mathrm{Sr}_{1-x}\mathrm{La}_x\mathrm{Fe}_{12-y}\mathrm{Cr}_y\mathrm{O}_{19}$ с использованием синхротронного излучения.

Методология исследования

Использование рентгеновской дифракции при синхротронном излучении позволило нам отследить эволюцию фазы в реальном времени и определить распределение ионов хрома по кристаллографическим позициям ($2a$, $4f_1$, $4f_2$, $12k$, и $2b$).